Электронная библиотека
Меню
Размещение литературы
Доставка литературы
Доставка диссертаций
Реклама на сайте
Цели библиотеки
Контактные данные
Я ищу:

Библиотечный каталог российских и украинских диссертаций

Вы находитесь:
Каталог диссертаций
Технические науки
Электроника
2003

Содержание текущего раздела:
Вимірювальні генераторні частотні перетворювачі для промислових мікроелектронних датчиків
Діелектричні фазообертачі надвисоких частот
Забезпечення міцності при термоударах електронних елементів, герметизованих компаундом
Квантова гірометрія високої точності: теорія та методики проектування
Конструкції та технологія електронних логічних пристроїв на основі НВЧ- мікроелементів з контурним гістерезисом
Мікроелектронні сенсори на основі КНІ-структур з рекристалізованим шаром полікремнію
Наближена нелінійна теорія релятивістських та нерелятивістських автофазних приладів надвисоких частот
Позиційно-чутливі фотоприймачі на основі Si і епітаксійних структур GaAs (отримання, властивості, застосування)
Прилади з зарядовим зв'язком у застосуванні до пристроїв зчитування з багатоелементних ІЧ фотоприймачів
Рідинна епітаксія твердих розчинів сполук A4B6 для діодів Шотткі
Рідиннофазна епітаксія структур на основі CaSb для термофотовольтаічних перетворювачів
Удосконалення технології вирощування зливків кремнію з рівномірним розподілом кисню
Формування омічних контактів до напівпровідників A3B5 для НВЧ польових транзисторів із наднизьким рівнем шуму
Фізико-технологічні основи електронно-йонних методів створення наноструктур функціональних елементів для НВІС
Фізико-технологічні особливості формування субмікронних структур великих інтегральних схем
Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур
Влияние физико-химических операций на процесс формирования исполнительной поверхности микроканальных пластин
Вольфрамовый торированный карбидированный катод для мощных электронных ламп
Гетероструктуры InSb_1-x Bi_x/InSb и GaSb_1-x Bi_x/GaSb с квантовыми ямами: технология получения и свойства
Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов
Закономерности формирования резистивных свойств микроканальных пластин
Использование численного моделирования на основе метода Монте-Карло для исследования и оптимизации процессов высокоэнергетической электронной литографии
Исследование акустического переноса зарядов в гетероструктурах на основе арсенида галлия
Исследование влияния технологических и конструктивных факторов на характеристики элементов отображения матричных газоразрядных индикаторов
Исследование и разработка конструктивно-технологических методов улучшения параметров силовых планарных МОП транзисторов
Исследование и разработка материалов пленочных сорбентов и структур интегральных сорбционно-емкостных сенсоров для измерения влажности технологических газов микроэлектроники
Исследование конструктивно-технологических особенностей проектирования высокоизбирательных фильтров на поверхностных акустических волнах в условиях крупносерийного производства
Исследование кристаллогенезиса полупроводников A^III B^V из висмутсодержащих расплавов (На примере InSbBi, AlInSbBi)
Лазерная генерация структурных дефектов и твердофазное разрушение поверхности кремния
Лазерная оптико-акустическая диагностика биологических сред
Локализованные и резонансные состояния мелких акцепторов в напряженных полупроводниковых гетероструктурах и одноосно деформированном германии
Методы увеличения времени функционирования КМОП СБИС запоминающих устройств в составе бортовой аппаратуры космических аппаратов
Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость
Моделирование и оптимизация параметров технологических процессов химического осаждения тонких пленок из газовой фазы в производстве приборов электронной техники
Молекулярно-лучевая эпитаксия гетероэпитаксиальных структур SiGe/Si
Молекулярно-лучевая эпитаксия низкоразмерных систем на основе гетероструктурных и d-легированных квантовых ям на подложках GaAs различной ориентации
Оптимизация условий выращивания и использование "третьего" компонента в процессах получения совершенных монокристаллов кремния методом Чохральского для СБИС
Оптимизация условий выращивания и использование "третьего" компонента в процессах получения совершенных монокристаллов кремния методом Чохральского для СБИС
Основы теории непрерывного технологического контроля параметров нанокомпозитных структур в технологии ионно-плазменных процессов
Отжиг электростатических дефектов полупроводниковых биполярных изделий
Планарные параболические линзы из кремния для жесткого рентгеновского излучения
Получение и исследование крупных монокристаллов синтетического алмаза для применения в полупроводниковой технике
Предельные напряжения двух и трехмерных p-n переходов в высоковольтных полупроводниковых приборах
Процессы жидкостной химической подготовки кремниевых пластин в производстве СБИС с субмикронными проектными нормами
Разработка методов автоматизированного проектирования интерфейсных БИС
Разработка процесса получения ВТСП пленок для устройств функциональной электроники
Разработка, исследование и моделирование процессов изготовления интегрально-оптических элементов в кристаллах ниобата лития
Свойства джозефсоновских переходов с прослойкой из сильно легированного аморфного кремния
Способы совершенствования тепловизионных систем на основе пировидикона
Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС
Технологические процессы и реакторы плазмохимического травления микроструктур элементов СБИС
Физико-технические основы систем переноса изображения на эффекте обращения волнового фронта для микроэлектронной технологии
Физико-технологические основы создания магнитных головок для высокоплотной записи информации
Физико-химические и технологические основы получения полиимидных структур для микроэлектронных устройств, устройств микромеханики и микросенсорики
Формирование упорядоченных упаковок наносфер SiO_2 и применение структур на их основе в функциональной электронике
Цифровая обработка рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов
Широкоапертурный ТЕ-СО_2-лазерный усилитель высокого давления

© Научная электронная библиотека, 2003-2008.
info@lib.ua-ru.net 		Яндекс цитирования